前
言
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IECl340—4—1(1995)《靜電學(xué)
弟4部分：供作專用用途的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)
方法
弟1節(jié)：地板覆蓋層和裝配地板的靜電性能》。本標(biāo)準(zhǔn)的制定和實(shí)施將為防靜電地板和
地板覆蓋層產(chǎn)品的貿(mào)易交往提供國(guó)際認(rèn)可的性能試驗(yàn)方法。同時(shí)，它也為國(guó)內(nèi)同行業(yè)間產(chǎn)品
的靜電性能比較、評(píng)價(jià)和產(chǎn)品制造方與使用方之間的合同交貨提供了統(tǒng)一的技術(shù)依據(jù)。
涉及防靜電地板和地板覆蓋層產(chǎn)品性能試驗(yàn)方法的電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，當(dāng)與本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定發(fā)
生爭(zhēng)議時(shí)，以本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定作為仲裁的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所。電子工業(yè)防靜電產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、電
子工業(yè)部弟十設(shè)計(jì)研究院和北京長(zhǎng)城計(jì)算機(jī)機(jī)房技術(shù)聯(lián)合開發(fā)公司參加了起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張寶銘、林文荻、孫延林、毛壽祺、余安、孔斌、胡景森。
本標(biāo)準(zhǔn)于1998年3月**發(fā)布。
本標(biāo)準(zhǔn)委托電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所負(fù)責(zé)解釋。
前言
1)IEC(國(guó)際電工技術(shù)委員會(huì))是一個(gè)由各國(guó)國(guó)家電工技術(shù)委員會(huì)(ⅡEC的國(guó)家委員會(huì))組成的世界范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)化組織。IEC的宗旨是在所有有關(guān)電氣和電子領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)化問題上促進(jìn)國(guó)際合作。所以，除其他工作之外，IEC還出版國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。IEC把標(biāo)準(zhǔn)的制定工作委托給各技術(shù)委員會(huì)；IEC的任何國(guó)家委員會(huì)對(duì)于感興趣的問題都可以參加到該項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的制訂工作中去。與IEC協(xié)作的國(guó)際的、政府的和非政府的組織也可以參與這項(xiàng)工作。根據(jù)IEC與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(1SO)之間的協(xié)議，兩個(gè)組織將保持密切的合作關(guān)系。
2)由所有對(duì)該問題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)都參加的技術(shù)委員會(huì)所制定的IEC有關(guān)技術(shù)問題的正式?jīng)Q議或協(xié)議，盡可能地表達(dá)了對(duì)所涉及的問題在國(guó)際上的一致意見。
3)出版的標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)報(bào)告或指南，以推薦的形式供國(guó)際上使用，并在此意義上為各國(guó)家委員會(huì)所承認(rèn)。
4)為了促進(jìn)國(guó)際的統(tǒng)一，IEC的國(guó)家委員會(huì)同意在他們的國(guó)家和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)中盡可能濟(jì)大限度地透明地使用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)的國(guó)家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)之間的任何偏離應(yīng)在后者內(nèi)清楚指明。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IECl340—4—1由IEC／TCl5(絕緣材料技術(shù)委員會(huì))的SCl5D(靜電學(xué)分技術(shù)委員會(huì))制定。本標(biāo)準(zhǔn)的正文以下述文件為基礎(chǔ)：
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)草案(DIS)
|
表決報(bào)告(Report on voting)
|
15D／42／01S
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15D／46／RVD |
有關(guān)批準(zhǔn)此項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)表決的詳細(xì)資料可以在上表所列的表決報(bào)告中得到。
附錄A構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)必要部分。
中華民共和國(guó)電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
SJ／T 11159—1998
地板覆蓋層和裝配地板靜電
性能的試驗(yàn)方法
idt IEC 1340—4—1：1995
Test methods for
electrostatic behaviour
Of floor coverings and
installed floors
1 總則
1．1 范圍
本標(biāo)準(zhǔn)是IECl340—4系列標(biāo)準(zhǔn)之一，規(guī)定了表征地板覆蓋層和裝配地板靜電性能的電阻起電性的測(cè)量方法。由于使用的要求，需要不同類型的地板，利用電阻測(cè)量方法不可能充分地表征靜電的性能，所以起電性測(cè)量方法的建立是必要的。
這些方法適用于供各種類型的地板覆蓋層和裝配地板的試驗(yàn)使用。地板覆蓋層的測(cè)試在受控環(huán)境條件下的試驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行，并在經(jīng)受條件處理試驗(yàn)后進(jìn)行。對(duì)于裝配地板，其測(cè)量在非受控環(huán)境條件下的現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行。
對(duì)于控制靜電用的材料來說，按本標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的要求進(jìn)行試驗(yàn)是適當(dāng)?shù)?，測(cè)量也可以在導(dǎo)
電性更好或絕緣性更好的材料上進(jìn)行。
1．2 引用標(biāo)準(zhǔn)
下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所
示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)濟(jì)新版本的可能性。
IS0 1957：1986 機(jī)制紡織晶地板覆蓋層
物理試驗(yàn)用樣品的抽樣和剪裁
1．3 定義
本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義。
1．3．1 導(dǎo)(靜電)地板(ECF) electrostatic conductive
floor(ECF) ·
一種地板，它具有足夠低的電阻，當(dāng)它接地或連接到任何較低電位點(diǎn)時(shí)快速地泄放電荷。
導(dǎo)(靜)電地板用電阻低于1X106?來表征。
注：對(duì)保護(hù)地的電阻或?qū)赡芙拥氐狞c(diǎn)的電阻，是涉及多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合的典型特性。
1．3．2 耗散(靜電)地板(DIF) dissipative floor
(DIF)
一種地板，當(dāng)它被接地或連接到任何較低電位點(diǎn)時(shí)，能夠使電荷耗散。
耗散(靜電)地板用電阻在1X106～1X10’n之間來表征。
注：
1．對(duì)保護(hù)地的電阻或?qū)赡芙拥氐狞c(diǎn)的電阻，是涉及多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合的典型特性。
2．由某一帶電體通過耗散(靜電)地板接地引起的放電電流的峰值，與導(dǎo)(靜)電地板相比是減少了，但電荷的耗散時(shí)間較長(zhǎng)。
中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部1998—03-11批準(zhǔn)
1998-05-01實(shí)施
SJ／T 11159—1998
1．3．3 難起(靜)電地板(ASF) astatic floor
(ASF)
一種地板，它由于接觸分離或與其它材料例如鞋底、車輪等摩擦所產(chǎn)生的電荷極少。這種
地板不需要耗散或?qū)ъo電。
難起(靜)電地板用于家庭或公共場(chǎng)合。它們以在地板表面上滾動(dòng)的試驗(yàn)滾柱上所測(cè)得的電壓來表征。
按照弟3章規(guī)定的方法進(jìn)行測(cè)量，此表征電壓應(yīng)小于2kV。
注：術(shù)語“抗靜電”由于存在不同的含義應(yīng)避免使用，因此選用了“難起(靜)電”。
1．3．4 表面電阻(RS) surface
resistance
在一給定的通電時(shí)間之后，施加于材料表面上的兩個(gè)電極之間的直流電壓對(duì)于該兩個(gè)電極之間的電流的比值，在該兩個(gè)電極上可能的極化現(xiàn)象忽略不計(jì)。
注：通常，電流主要通過材料的表面層和任何相關(guān)的水份以及表面污染物流過，但它也包括在材料體積內(nèi)的分量。
1．3．5體積電阻(Rv) volume
resistance
在一給定的通電時(shí)間之后，施加于與一塊材料的相對(duì)兩個(gè)面上相接觸的兩個(gè)引入電極之間的直流電壓和該二電極之間的電流的比值，在該兩個(gè)電極上可能的極化現(xiàn)象忽略不計(jì)。
1．3．6 電阻測(cè)量電極 resistance measuring
electrodes
測(cè)量電極是一個(gè)與被試樣品相接觸的具有特定形狀、尺寸和質(zhì)量的導(dǎo)體。在某些情況下，它與一個(gè)副電極相關(guān)聯(lián)。
副電極是置于樣品之下的電極，它由一適當(dāng)?shù)膶?dǎo)體材料組成或形成被測(cè)量的裝配地板的
安裝部件。
1．3．7 可能接地的點(diǎn) groundable point
地板覆蓋層上的一個(gè)點(diǎn)，它用來提供從地板覆蓋層到一適當(dāng)?shù)墓步拥攸c(diǎn)的電氣連接。
1．3．8 對(duì)可能接地的點(diǎn)的電阻(RG) resistance To a groundable
point
在放置于一個(gè)樣品或一裝配地板的表面上的測(cè)量電極和一可能接地的點(diǎn)之間所測(cè)得的電阻。
1．3．9 對(duì)保護(hù)地的電阻(RE) resistance to the protective
earth
在放置于一裝配地板的表面上的測(cè)量電極和電源配電系統(tǒng)的防護(hù)地之間所測(cè)得的電阻。
1．3．10 表征電壓 characterizing
voltage
在以專門的接觸材料包著的并在被試表面上滾動(dòng)的滾柱上所測(cè)得的對(duì)地電壓。
1．4 供試驗(yàn)室試驗(yàn)用的樣品
紡織和彈性地板覆蓋層試驗(yàn)樣品的抽樣按照IS01957進(jìn)行。
注：半成品例如高架地板磚可被認(rèn)為是樣品。
樣品的濟(jì)小尺寸應(yīng)是：
——供到可能接地的點(diǎn)的電阻測(cè)量用0．5mXl．2m；
——供其他電阻測(cè)量用0．5mX0．5m；
——供起電性試驗(yàn)用lmX2m。
如果樣品的尺寸小于這些尺寸，那么足夠數(shù)量的樣品應(yīng)裝配在一起以代替的方法構(gòu)成所需
SJ／T 11159—1998
要的濟(jì)小面積。
對(duì)于需要的機(jī)械支撐材料(陶瓷磚、油漆、膠粘材料等)，應(yīng)根據(jù)所進(jìn)行的測(cè)量類型使用下述規(guī)定的支撐材料中的一種；
——硅酸鈣板，模擬混凝土的地基，供表面電阻或到可能接地的點(diǎn)的電阻測(cè)量之用。
——導(dǎo)體基片，例如一個(gè)金屬板，供體積電阻測(cè)量之用。
制造廠應(yīng)提供地板安裝用的說明書的副本。
應(yīng)提供適當(dāng)規(guī)格的三只樣品以供測(cè)量之用。
1．5 供試驗(yàn)室測(cè)試用的條件處理和環(huán)境條件
材料的靜電性能，通常依賴于環(huán)境條件，主要是相對(duì)濕度。由于此種理由，測(cè)量應(yīng)在由表1的三個(gè)等級(jí)所規(guī)定的受控條件下進(jìn)行。對(duì)于試驗(yàn)等級(jí)的選擇，按照被試驗(yàn)的地板覆蓋層的類型和預(yù)知的用途來進(jìn)行。它以產(chǎn)品預(yù)期工作的濟(jì)嚴(yán)格的條件(濟(jì)低濕度)為基礎(chǔ)。
如必要，地板覆蓋層的清潔處理應(yīng)在預(yù)處理(當(dāng)有規(guī)定時(shí))之前或根據(jù)制造廠的推薦在條件處理之前進(jìn)行。
注：在清潔處理前后進(jìn)行測(cè)量可能是有幫助的。在清潔處理后進(jìn)行測(cè)量的情況下，如果清潔處理用的物品含有水或不易揮發(fā)的物質(zhì)，地板覆蓋層表面應(yīng)被適當(dāng)?shù)厍謇砗透稍铩?/font>
在下列環(huán)境條件下，在試驗(yàn)室房間內(nèi)，對(duì)樣品進(jìn)行條件處理和測(cè)量。為了**一些材料在模壓之后呈現(xiàn)的應(yīng)力效應(yīng)或在條件處理開始之前進(jìn)行干燥，樣品的預(yù)處理可能是必要的。紡織品需要加濕的預(yù)處理和較長(zhǎng)時(shí)間的干燥條件處理。
在預(yù)處理和條件處理期間自由變換樣品兩個(gè)表面時(shí)，濕度和條件處理的空氣應(yīng)予保證。
溫度和相對(duì)濕度應(yīng)分辨到1℃和1％RH的精度。
表1 環(huán)境等級(jí)
注：1．規(guī)定的條件處理時(shí)間對(duì)于使樣品達(dá)到與環(huán)境完全平衡可能未必充分。它們已被作為在成本和精度之間的一項(xiàng)折衷選擇。如果想評(píng)定它在接**衡條件時(shí)的性能，那么應(yīng)做一系列的測(cè)量直到測(cè)量的結(jié)果顯示它已經(jīng)達(dá)到。
2． 環(huán)境等級(jí)2a是供紡織品覆蓋層試驗(yàn)用的優(yōu)先選用的一種。
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1．6 成品地板的試驗(yàn)條件
如果需要，地板的清潔處理應(yīng)按照制造廠的推薦進(jìn)行。如果清潔處理用的物品含有水或
不帶高揮發(fā)性的加雜物，該地板應(yīng)被適當(dāng)?shù)厍謇砗透稍铩?/font>
注：在清潔處理前后進(jìn)行測(cè)量可能是有幫助的。
溫度和相對(duì)濕度應(yīng)分辨到1℃和1％RH的精度。
1．7地板的分類
根據(jù)弟2章和弟3章，此分類以產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的相應(yīng)方法為基礎(chǔ)。
分類的原則規(guī)定在表2中。
表2地板的分類
測(cè) 量 內(nèi) 容
|
相應(yīng)值
|
類 別
|
電 阻1)
|
Rx≤106?
|
ECF
|
電 阻1)
|
1069?
|
DIF
|
起電性
|
V≤2kV
|
ASF
|
1)
產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)提供關(guān)于被進(jìn)行測(cè)量的電阻類型的指南。 |
1．7．1 地板覆蓋層的分類和標(biāo)志
地板覆蓋層應(yīng)按照1．3．1—1．3．3條給出的電氣特性的規(guī)定進(jìn)行分類。以表1中規(guī)定的環(huán)境等級(jí)中的一種在試驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。
推薦地板覆蓋層的反面利用標(biāo)志標(biāo)明其類別。
該標(biāo)志應(yīng)顯示出：
——靜電類別；
——從表1中選取的環(huán)境等級(jí)；
——使用的測(cè)量類型。
例如：“DIF一1級(jí)一Rv”，其含義為：
按照環(huán)境等級(jí)1進(jìn)行預(yù)處理和條件處理之后進(jìn)行測(cè)量時(shí),表明材料的體積電阻在1X
106?和1X109?之間。
1．7．2 裝配地板的分類
裝配地板可以按照1．3．1～1．3．3條給出的關(guān)于它們的電氣特性的規(guī)定進(jìn)行分類。當(dāng)在外界環(huán)境條件下進(jìn)行測(cè)量時(shí)，這種類別不能代替在試驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)所確定的地板覆蓋層的類別。裝配地板的溫度和水份含量通常不能可靠地與測(cè)量的外部大氣條件相關(guān)聯(lián)，甚至當(dāng)這些條件受控時(shí)也一樣。事實(shí)上，在進(jìn)行測(cè)量的地點(diǎn)，裝配地板所在環(huán)境內(nèi)周圍的大氣條件只能去記錄。在預(yù)定的環(huán)境條件范圍內(nèi)，規(guī)定裝配地板的類別，對(duì)于提供其靜電性能的預(yù)計(jì)仍然是有利的。
1．8 試驗(yàn)報(bào)告
試驗(yàn)報(bào)告至少應(yīng)包含下列信息：
——概況：
a) 測(cè)量日期；
b) 材料情況的標(biāo)識(shí)(名稱、級(jí)別、顏色、制造廠商等等)；
c) 測(cè)量的類型；
d) 在測(cè)量時(shí)的溫度和相對(duì)濕度條件；
SJ／7 11159—1998
e) 濟(jì)小、濟(jì)大和平均的測(cè)量值。
----關(guān)于地板覆蓋層(試驗(yàn)室測(cè)試九
f)樣品的形狀和尺寸；
g)如需要，將小的樣品裝配在一起的組裝方法；
h)預(yù)處理(樣品的清潔處理、預(yù)干燥)；
i)條件處理；
j)地板覆蓋層的類別。
----關(guān)于裝配地板(現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試)；
k) 安裝日期；
1) 帶有測(cè)量點(diǎn)、可能接地的點(diǎn)和／或板條位置的房間圖；
m) 裝配構(gòu)件或粘合劑的類型和結(jié)構(gòu)；
n) 地板的清潔處理；
o) 裝配地板的類別。
2 電阻的測(cè)量
2．1 電阻的測(cè)量程序
未知電阻被表示為Rs、Rv、RG和只x。測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量依賴于被測(cè)試面積的大小。所測(cè)電阻的
平均值與濟(jì)低及濟(jì)高值應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告上指明。
2．1．1 試驗(yàn)裝置
供電阻測(cè)量用的裝置描述于附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)。它用于試驗(yàn)室內(nèi)和現(xiàn)場(chǎng)兩種場(chǎng)合進(jìn)行測(cè)
量。
如適用，其他符合國(guó)家或國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的電極可以使用。在有爭(zhēng)議的情況下，必須使用本標(biāo)準(zhǔn)
所描述的電極。
2．1．2
在受控條件下供地板覆蓋層樣品進(jìn)行試驗(yàn)室測(cè)量的試驗(yàn)裝置
2．1．2．1 供試驗(yàn)室測(cè)試的樣品
紡織品和有彈性的地板覆蓋層的測(cè)試樣品的抽樣按照IS01957和本標(biāo)準(zhǔn)1．4條進(jìn)行。
根據(jù)測(cè)量的類型這些樣品被置于：
——由柔軟而導(dǎo)電的覆蓋層覆蓋的一個(gè)金屬副電極上，以改善與樣品的底表面的接觸(見
2．1．2．4和A1．2條)。這個(gè)副電極供體積電阻的測(cè)量用。
——一個(gè)具有體積電阻至少1012?的并由任何適當(dāng)?shù)木鶆虿牧现瞥傻某浞纸^緣的支承物上。該
支承物供表面電阻或到可能接地的點(diǎn)的電阻測(cè)量用(見2．1．2．3和2．1．2．5條)。
注：在這種情況下均勻材料意味著只由單層組成。
測(cè)量工作至少應(yīng)在被測(cè)表面上的隨機(jī)選取的三個(gè)測(cè)量位置上進(jìn)行。在電極的任何點(diǎn)與樣
品的邊緣之間的濟(jì)小距離應(yīng)是50mm。
2．1．2．2 在受控環(huán)境下供試驗(yàn)室測(cè)試的條件處理
在受控環(huán)境下供試驗(yàn)室測(cè)試的條件處理按照1．5條進(jìn)行。
2．1．2．3 表面電阻測(cè)量
表面電阻測(cè)量方法原理如圖1所示。
提及。除非另有規(guī)定，在通電15s±2s之后，確定電阻及x(Rs、Rv＼只c或Rx)的值
2．2 試驗(yàn)報(bào)告
試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包含1．8條所要求的信息和下列附加內(nèi)容：
p) 電阻測(cè)量的類型；
q) 電壓極性；
r) 試驗(yàn)電壓；
s) 通電時(shí)間；
t) 使用的電極型號(hào)。
3 起電性的測(cè)量
待定。
附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)
實(shí) 驗(yàn) 裝
置
A1 供電阻測(cè)量用的試驗(yàn)裝置
A1．1 供地板覆蓋層和裝配地板電阻測(cè)量用的電極
該電極由一個(gè)圓形平板測(cè)量電極、一個(gè)屏蔽電極和一接地體組成。該電極是由黃銅或不銹鋼制成的、用導(dǎo)電粘合劑將導(dǎo)電泡沫塑料和硅橡膠粘合在一起的圓柱形組件(見圖A1)。
電極的主要特性是：
——重量(約)：5kg；
——電阻測(cè)量電極直徑：50mm±6mm；
——在材料上產(chǎn)生的壓力：25kPa±lkPa；
——電極硬度：50±10(邵氏A級(jí))；
——電極對(duì)金屬板的電阻(軟電極的體積電阻)：小于5001'1；
——軟電極厚度：6mm±lmm(當(dāng)去掉負(fù)載時(shí))。
作為示例給予圖A1的便于使用的電極，提供非?？焖俚暮涂芍貜?fù)的測(cè)量。電極體的接地保證了使用者的可靠。另一方面，低的內(nèi)阻和在電極體與電阻測(cè)量電極之間的高絕緣性允許電阻測(cè)量值有大的范圍。屏蔽電極防止了外部靜電的影響和消除了在絕緣體內(nèi)的漏電。電極的重量和低硬度提供了與被試材料的良好接觸。
為獲得正確的重量，附加的構(gòu)件被置于電極體的內(nèi)部。
注：
1．對(duì)于濟(jì)高的電阻測(cè)量，在電極的引線之間需要1X1014D,的絕緣電阻。
2．對(duì)于紡織地板覆蓋層的試驗(yàn)，測(cè)量電極不需要軟保護(hù)。
3．只要測(cè)量電極的硬度和電阻符合所要求的值，它的軟保護(hù)層可以僅由一種導(dǎo)電構(gòu)件制成。
A1．2 供體積電阻測(cè)量用的副電極
副電極(圖像標(biāo)明于圖A1下部的電阻測(cè)量電極一樣)是一個(gè)由黃銅或不銹鋼制成的用導(dǎo)電粘合劑將導(dǎo)電泡沫塑料和硅橡膠與其粘合在一起的圓柱形組件。副電極的主要特性如下：
——直孔：80mm±lmm；
——硬度：50±10(邵氏A級(jí))；
——副電極對(duì)金屬板的電阻(軟電極的體積電阻)：小于500?；
——軟電極厚度：6mm±lmm(當(dāng)去掉負(fù)載時(shí))。
A1．3 電阻測(cè)量?jī)x器
此儀器應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)以使測(cè)定的電阻Rx在1X10311～1X101~f~的量程內(nèi)具有±5％的精度和對(duì)于電阻高于1X101~Il時(shí)具有±10％的精度。
注：測(cè)量?jī)x器的內(nèi)阻過大將影響測(cè)量的**性，尤其是當(dāng)測(cè)量低電阻時(shí)。
A2 供起電性測(cè)量用的試驗(yàn)裝置
待定。
